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  • Huace FE華測儀器 國產(chǎn)定制鐵電性能綜合測量儀
    Huace FE華測儀器 國產(chǎn)定制鐵電性能綜合測量儀

    更新時(shí)間：2024-12-12

    型號：Huace FE

    瀏覽量：2820

    華測儀器 國產(chǎn)定制鐵電性能綜合測量儀，內(nèi)置完整的專用工控計(jì)算機(jī)主機(jī)、測試版路、運(yùn)算放大器、數(shù)據(jù)處理單元等，包括專用工控計(jì)算機(jī)主板、CPU(i5 或較高)、RAM(8G 或較大)、固態(tài)硬盤(250G 或較大)、網(wǎng)卡、USB 接口、DVD 光驅(qū)、 VGA 接口、預(yù)裝 Windows 7 操作系統(tǒng)、鐵電分析儀專用測試軟件等。
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  • HPZT-200華測儀器 壓電系數(shù)/介電常數(shù)測試儀
    HPZT-200華測儀器 壓電系數(shù)/介電常數(shù)測試儀

    更新時(shí)間：2025-09-18

    型號：HPZT-200

    瀏覽量：2549

    HPZT-200華測儀器 壓電系數(shù)/介電常數(shù)測試儀可測量壓電材料的介電常數(shù)、居里溫度、熱釋電系數(shù)、縱向壓電應(yīng)變常數(shù)d33、機(jī)電耦合系數(shù)等參數(shù),是一款功能壓電材料測試裝置。
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  • 低壓 HC-TSC2000熱刺激電流測試儀器
    低壓 HC-TSC2000熱刺激電流測試儀器

    更新時(shí)間：2024-12-12

    型號：

    瀏覽量：2365

    低壓 HC-TSC2000熱刺激電流測試儀器從根本上解決了，測量溫度、測量導(dǎo)線、電網(wǎng)諧波干擾，以及測量延長導(dǎo)線阻抗對測量數(shù)據(jù)的影響。在測量方式上進(jìn)行了一系列的創(chuàng)新。
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  • Huace-DCS10KV儲(chǔ)能電介質(zhì)充放電測試系統(tǒng)/功能材料
    Huace-DCS10KV儲(chǔ)能電介質(zhì)充放電測試系統(tǒng)/功能材料

    更新時(shí)間：2025-01-14

    型號：Huace-DCS10KV

    瀏覽量：1822

    儲(chǔ)能電介質(zhì)充放電測試系統(tǒng)/功能材料，主要用于研究介電儲(chǔ)能材料高電壓放電性能。采用特殊高壓開關(guān)，通過單刀雙擲控制充電和放電過程，開關(guān)可以承受10kV高壓，寄生電容小，動(dòng)作時(shí)間短。電介質(zhì)充放電測試系統(tǒng) 可外接高壓放大器電介質(zhì)充放電測試系統(tǒng) 可外接高壓放大器
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  • HuaceFE 2000精密壓電MEMS分析儀/微機(jī)電系統(tǒng)測試儀器
    HuaceFE 2000精密壓電MEMS分析儀/微機(jī)電系統(tǒng)測試儀器

    更新時(shí)間：2024-12-12

    型號：HuaceFE 2000

    瀏覽量：1742

    精密壓電MEMS分析儀/微機(jī)電系統(tǒng)測試儀器將數(shù)字、模擬和通信電路功能與精密多鐵非線性材料試驗(yàn)機(jī)的現(xiàn)有非線性材料測量功能相結(jié)合，所有功能均由 Radiant 的 Vision 可編程測試環(huán)境監(jiān)督。
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  • 華測半導(dǎo)體封裝材料高低溫真空探針臺
    華測半導(dǎo)體封裝材料高低溫真空探針臺

    更新時(shí)間：2024-12-12

    型號：

    瀏覽量：2477

    華測半導(dǎo)體封裝材料高低溫真空探針臺，溫度范圍77K-675K(液氮)；可應(yīng)用于真空及常規(guī)環(huán)境；超高溫度分辨率；特殊客制低溫系統(tǒng)；具有較好穩(wěn)定性
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  • Huace-6S半導(dǎo)體封裝材料高低溫探針臺
    Huace-6S半導(dǎo)體封裝材料高低溫探針臺

    更新時(shí)間：2024-12-12

    型號：Huace-6S

    瀏覽量：2347

    半導(dǎo)體封裝材料高低溫探針臺，可用于12英寸以內(nèi)樣品測試，采用密閉腔結(jié)構(gòu)，屏蔽外部電信干擾同時(shí)保持氮?dú)庹龎涵h(huán)境下樣品在低溫時(shí)無結(jié)霜。
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  • Huace-8 綜合性分析探針臺
    Huace-8 綜合性分析探針臺

    更新時(shí)間：2024-12-12

    型號：

    瀏覽量：2999

    Huace-8 綜合性分析探針臺zd可用于12英寸以內(nèi)樣品測試； 操作便捷，功能其全，高效精準(zhǔn)； 可滿足晶片測試、光電器件測試、PCB/IC測試、射頻測試、高壓大電流測試等
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