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  • HCLD-III電痕化漏電起痕試驗(yàn)儀測(cè)試儀器
    HCLD-III電痕化漏電起痕試驗(yàn)儀測(cè)試儀器

    更新時(shí)間：2024-06-05

    型號(hào)：HCLD-III

    瀏覽量：1548

    電痕化漏電起痕試驗(yàn)儀測(cè)試儀器是根據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測(cè)定方法》，UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬試驗(yàn)項(xiàng)目。
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  • HCLD-III電工電子漏電起痕試驗(yàn)儀/測(cè)試儀器
    HCLD-III電工電子漏電起痕試驗(yàn)儀/測(cè)試儀器

    更新時(shí)間：2024-06-05

    型號(hào)：HCLD-III

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    電工電子漏電起痕試驗(yàn)儀/測(cè)試儀器是根據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測(cè)定方法》，UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬試驗(yàn)項(xiàng)目。
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  • HCLD-III電氣絕緣材料漏電起痕試驗(yàn)儀
    HCLD-III電氣絕緣材料漏電起痕試驗(yàn)儀

    更新時(shí)間：2024-06-05

    型號(hào)：HCLD-III

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    電氣絕緣材料漏電起痕試驗(yàn)儀是根據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測(cè)定方法》，UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬試驗(yàn)項(xiàng)目。
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  • HCLD-III控制精密漏電起痕試驗(yàn)儀測(cè)試儀器
    HCLD-III控制精密漏電起痕試驗(yàn)儀測(cè)試儀器

    更新時(shí)間：2024-06-05

    型號(hào)：HCLD-III

    瀏覽量：1544

    控制精密漏電起痕試驗(yàn)儀測(cè)試儀器是根據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測(cè)定方法》，UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬試驗(yàn)項(xiàng)目。
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  • HCLD-III高壓漏電起痕試驗(yàn)儀測(cè)試儀器
    HCLD-III高壓漏電起痕試驗(yàn)儀測(cè)試儀器

    更新時(shí)間：2025-07-29

    型號(hào)：HCLD-III

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    高壓漏電起痕試驗(yàn)儀測(cè)試儀器，是根據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測(cè)定方法》，UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬試驗(yàn)項(xiàng)目。
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  • Huace-300華測(cè)*絕緣材料表面體積電阻率測(cè)定機(jī)
    Huace-300華測(cè)*絕緣材料表面體積電阻率測(cè)定機(jī)

    更新時(shí)間：2024-06-05

    型號(hào)：Huace-300

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    Huace-300型華測(cè)*絕緣材料表面體積電阻率測(cè)定機(jī)符合標(biāo)準(zhǔn)GB/T 1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法》和《絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗(yàn)方法》等標(biāo)準(zhǔn)的要求。
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  • Huace-300數(shù)顯式絕緣材料表面體積電阻率測(cè)定機(jī)
    Huace-300數(shù)顯式絕緣材料表面體積電阻率測(cè)定機(jī)

    更新時(shí)間：2024-12-12

    型號(hào)：Huace-300

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    Huace-300型數(shù)顯式絕緣材料表面體積電阻率測(cè)定機(jī)符合標(biāo)準(zhǔn)GB/T 1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法》和《絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗(yàn)方法》等標(biāo)準(zhǔn)的要求。
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  • Huace-300集成電路絕緣材料表面體積電阻率測(cè)定機(jī)
    Huace-300集成電路絕緣材料表面體積電阻率測(cè)定機(jī)

    更新時(shí)間：2025-09-18

    型號(hào)：Huace-300

    瀏覽量：2517

    集成電路絕緣材料表面體積電阻率測(cè)定機(jī)既可測(cè)量高電阻，又可測(cè)微電流。測(cè)量精度達(dá)到3‰。同時(shí)儀器體積小、重量輕、本儀器具有精度高、顯示迅速、性好穩(wěn)定、讀數(shù)方便等優(yōu)點(diǎn)。
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