
當(dāng)前位置:首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > 半導(dǎo)體封裝材料測(cè)試系統(tǒng) > TSDC測(cè)試系統(tǒng) > Huace-TSDC熱刺激去極化電流測(cè)試儀 TSDC系統(tǒng)簡(jiǎn)要描述:熱刺激去極化電流測(cè)試儀 TSDC系統(tǒng)可用于檢測(cè)材料在長(zhǎng)期運(yùn)行中積累的空間電荷,評(píng)估其絕緣劣化程度;在新型儲(chǔ)能材料開(kāi)發(fā)中,可揭示離子遷移與界面極化行為;在高分子物理研究中,有助于識(shí)別α、β、γ等多重弛豫過(guò)程。
產(chǎn)品分類(lèi)
Product Category詳細(xì)介紹
| 品牌 | 華測(cè)儀器 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子/電池,航空航天,電氣,綜合 |
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一、概述
熱刺激去極化電流測(cè)試儀 TSDC系統(tǒng)(Thermally Stimulated Depolarization Current Measurement System)是一種用于研究電介質(zhì)材料內(nèi)部極化行為與陷阱能級(jí)分布的電學(xué)測(cè)試設(shè)備。該系統(tǒng)基于熱刺激去極化電流原理,通過(guò)在受控溫度條件下測(cè)量材料在極化后釋放的電流信號(hào),獲取其介電弛豫、空間電荷、偶極子取向及缺陷態(tài)等關(guān)鍵物理信息。
二、系統(tǒng)組成
熱刺激去極化電流測(cè)試儀 TSDC系統(tǒng)由溫控單元、微弱電流檢測(cè)模塊、高壓極化電源、樣品夾具、數(shù)據(jù)采集與控制軟件等部分組成。溫控單元采用液氮制冷或電加熱方式,可實(shí)現(xiàn)從低溫至高溫范圍內(nèi)的程序控溫,升溫速率可調(diào),控溫精度可達(dá)±0.1℃。微弱電流檢測(cè)模塊采用靜電計(jì),確保對(duì)低強(qiáng)度去極化電流的準(zhǔn)確捕捉。高壓極化電源提供直流電壓,用于在設(shè)定溫度下對(duì)樣品施加極化場(chǎng),極化電壓可達(dá)1– 10kV,可滿(mǎn)足不同介電材料的測(cè)試需求。
三、應(yīng)用領(lǐng)域
陷阱態(tài)分析:定量分析聚合物、半導(dǎo)體、復(fù)合材料中的陷阱能級(jí)深度、密度及分布。
駐極體性能評(píng)估:測(cè)量電荷儲(chǔ)存穩(wěn)定性、衰減動(dòng)力學(xué)。
生物材料研究:分析蛋白質(zhì)、多糖等生物高分子的弛豫行為與相變。
老化與失效分析:研究材料在電、熱應(yīng)力作用下的降解機(jī)制。
新型功能材料開(kāi)發(fā):鈣鈦礦太陽(yáng)能電池、有機(jī)發(fā)光二極管等器件中的電荷輸運(yùn)特性研究。
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